基于高可靠产品漏率检测技术的探讨

著录项

• 来源
  《中国真空学会质谱分析和检漏专业委员会第十七届年会、中国计量测试学会真空计量专业委员会第十二届年会》|2013年|125-133|共9页
• 会议地点 天津
• 作者

  纪孟轩; 任凯; 韩智恒;

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• 作者单位

  中国真空学会;

  中国计量测试学会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 V465.3;
• 关键词

  航天产品; 泄漏检测; 效果评估;