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一种基于遗传算法的测试激励自动生成方法

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本文介绍了一种在UVM验证平台的基础上,利用遗传算法分析功能覆盖率信息,指导生成测试激励,建立从覆盖率到测试生成的闭环系统,与普通的约束随机激励生成方法相比,激励生成不需要编写复杂的约束,也不需要人为的分析覆盖率信息,节约大量验证时间.将该系统运用于处理器访存部件的功能验证中,实验结果表明,该验证方法有效提高了验证效率.

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来源
《第十九届计算机工程与工艺年会暨第五届微处理器技术论坛》|2015年|467-472|共6页
会议地点哈尔滨
作者
董伸; 赵天磊; 张民选;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 测试激励; 遗传算法; 验证工作;

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