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辐射效应对SAR ADC影响及加固方法

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本文将分析空间辐射效应的分类及作用机理,重点论述单粒子效应与总剂量效应对SAR ADC造成的影响以及目前针对这两类效应的加固方法.总体来讲，SAR ADC中数字电路部分的抗辐射加固技术相对来说比较成熟，但是模拟模块如DAC电容阵列、带隙基准的加固技术仍是难点，也将是抗辐射SAR ADC研究所面临的最艰巨的任务之一。近年来我国航天事业迅猛发展，在载人航天、探月等关键技术均有所突破，但关键宇航器件受制于人的局面并未得到根本扭转，高性能抗辐射FPGA、ABC及DAC等关键集成电路依然没有实现国产化。

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来源
《第十九届计算机工程与工艺年会暨第五届微处理器技术论坛》|2015年|169-173|共5页
会议地点哈尔滨
作者
安康; 梁斌; 李晋文;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类制造工艺;
关键词
集成电路; 加固技术; 单粒子效应; 总剂量效应;

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