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统计分析太阳耀斑所致X射线及EUV辐射变化特征

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本文利用0.1～0.8nm的X-ray数据、26～34nm的EUV数据、0.1～50nm的EUV数据统计分析X-ray辐射与不同波段EUV辐射的相关性，同时统计研究不同等级耀斑的边缘效应。

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来源
《中国地球物理学会第二十七届年会》|2011年|903|共1页
会议地点长沙
作者
乐会军; 刘立波; 贺晗; 万卫星;
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作者单位

中国地球物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 P182.52;
关键词
太阳耀斑; X射线; 极紫外辐射; 边缘效应;

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