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数字通道传输延迟时间测量技术

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在集成电路测试领域,传输延迟时间是一个非常重要的参数.其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素.本文详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因,及其对待测器件交流参数测量结果的影响.提出了基于时域反射技术的集成电路测试系统数字通道传输延迟测量技术,并在泰瑞达J750EX集成电路测试系统上进行了实验验证.通过对实验数据的分析,表明该方法能有效测量数字通道传输延迟时间,提高集成电路测试系统交流参数测量准确度.

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来源
《2015国防无线电电学计量与测试学术交流会》|2015年|124-129|共6页
会议地点北京
作者
GU Yi; 顾翼; SHI Jian; 石坚; ZHANG Minghu; 张明虎;
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作者单位

中国宇航学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 数字通道; 传输延迟时间; 参数测量;

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