存储器管理器抗单粒子效应模拟试验

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• 来源
  《第十一届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会》|2011年|256-257|共2页
• 会议地点 三亚
• 作者

  邓玉良; 李洛宇; 裴国旭; 邱嘉敏; 林家庆; 马文娟; 张灯;

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• 作者单位

  中国电子学会;

  中国核学会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 半导体集成电路存贮器;
• 关键词

  存储器管理器芯片; SOI工艺; 抗单粒子效应; 模拟试验;