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Investigating the neurite-extracellular matrix interactions with an atomic force-total internal reflection fluorescence microscope system

机译:用原子力-全内反射荧光显微镜系统研究神经突-细胞外基质的相互作用

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摘要

The interactions between neurite and extracellular matrix (ECM) are systematically and quantitatively measured in this study.Specifically,enforced detachment of axons adhering to a functionalized substrate is achieved by pulling the cell body away with an atomic force microscope (AFM) probe.
机译:在这项研究中,系统地和定量地测量了神经突与细胞外基质之间的相互作用。具体而言,通过用原子力显微镜(AFM)探针将细胞体拉开,可以使粘附在功能化基质上的轴突强行脱离。

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