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Comparable measurements and modeling of piezoelectric thin films for MEMS application

机译:MEMS应用的压电薄膜的可比测量和建模

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摘要

Accurate and reliable measurements of piezoelectric coefficients on thin films are required to perform thin film process development and compare different manufacturing techniques and quality especially in MEMS applications.
机译:需要精确可靠地测量薄膜上的压电系数,以执行薄膜工艺开发并比较不同的制造技术和质量,尤其是在MEMS应用中。

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