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首页> 外文会议>2017 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference: NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip >ESD induced EMS problems in digital IOs
【24h】

ESD induced EMS problems in digital IOs

机译：ESD引发数字IO中的EMS问题

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Soft failures due to ESD events must be taken into account for the correct function of an integrated circuit. In addition to the ESD characterization of unpowered integrated circuits, especially in the case of hard failures, an ESD characterization of powered ICs is necessary in order to analyze possible soft failures. The paper deals with soft failures in integrated circuits due to interferences in input and output pad cells from the VDD core and VDDIO supplies. A comparison of the influence of additional capacitances to buffer the IO/core supply is also included.
机译：对于集成电路的正确功能，必须考虑由于ESD事件引起的软故障。除了未供电集成电路的ESD特性外，特别是在硬故障的情况下，还需要对有源IC进行ESD特性，以分析可能的软故障。本文讨论了由于VDD内核和VDDIO电源对输入和输出焊盘单元的干扰而导致的集成电路软故障。还包括对附加电容的影响进行比较，以缓冲IO /内核电源。

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