Phase Contrast Imaging Using an X-Ray Interferometer

机译：使用X射线干涉仪的相衬成像

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X-ray phase-contrast imaging has a wide range of applications in material science, quality control, medicine, and metrology. This article describes recent progress at the CNR-IMGC in the application of interferometric techniques to achieve images of Si-crystal lattice and of materials transparent to x rays as well as to measure the index of refraction in the x-ray spectral region.

机译：X射线相衬成像在材料科学，质量控制，医学和计量学中具有广泛的应用。本文介绍了CNR-IMGC在干涉技术应用方面的最新进展，该技术用于获得Si晶格图像和对X射线透明的材料的图像，以及测量X射线光谱区域中的折射率。

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来源
《2nd International EUSPEN Conference on Precision Engineering Nanotechnology Vol.1, May 27th-31st, 2001, Turin, Italy》|2001年|p.426-429|共4页
会议地点 Turin(IT)
作者
U. Berzano; G. Durando; E. Massa;
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作者单位

ASP, Torino, Italy;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类机械、仪表工业;
关键词

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