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首页> 外文会议>3rd EOS conference on manufacturing of optical components 2013 >AFJP - A Review of a Sub-Aperture Polishing Technology
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AFJP - A Review of a Sub-Aperture Polishing Technology

机译：AFJP-子孔径抛光技术的回顾

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This paper reports on test series concerning the "Active Fluid Jet" polishing technology. For different glass materials, pin materials and processing parameters we figured out the biggest influence on path depth and shape as an indication of the average removal rate. The implementation to industrial processes is intended.
机译：本文报告了有关“ Active Fluid Jet”抛光技术的测试系列。对于不同的玻璃材料，销钉材料和加工参数，我们指出了对路径深度和形状的最大影响，作为平均去除率的指标。有意实施工业流程。

著录项

  • 来源
  • 会议地点 Munich(DE)
  • 作者

    C.Trum; H.Biskup; C.Wuensche; R.Rascher;

  • 作者单位

    Deggendorf University of Applied Sciences, Technologiecampus Teisnach, Teisnach, 94244, Germany;

    Deggendorf University of Applied Sciences, Technologiecampus Teisnach, Teisnach, 94244, Germany;

    Deggendorf University of Applied Sciences, Technologiecampus Teisnach, Teisnach, 94244, Germany;

    Deggendorf University of Applied Sciences, Laboratory 'Optical Engineering', Deggendorf, 94469, Germany;

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