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Platinum Silicide Precipitate Formation during Phosphorus Diffusion Gettering in Silicon

机译:硅中磷扩散吸收过程中硅化铂沉淀物的形成

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摘要

Analytical, high-resolution and scanning transmission electron microscopy as well as secondary ion mass spectroscopy has been used to study phosphorus diffusion gettering of platinum in silicon at 1100℃. These techniques consistently show that a thin layer of PtSi islands forms directly beneath the interface between the phosphorus silica glas and the silicon which accounts for about 50% of the gettered platinum atoms.
机译:分析,高分辨率和扫描透射电子显微镜以及二次离子质谱已用于研究铂在1100℃下在硅中的磷扩散吸收。这些技术一致地表明,在磷硅玻璃与硅之间的界面正下方直接形成了一层PtSi岛薄层,约占已吸收的铂原子的50%。

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