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首页> 外文会议>Asia and South Pacific Design Automation Conference 1999 January 18-21, 1999 Wanchai, Hong Kong >An Adaptive BIST to Detect Multiple Stuck-Open Faults in CMOS circuits
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An Adaptive BIST to Detect Multiple Stuck-Open Faults in CMOS circuits

机译：自适应BIST检测CMOS电路中的多个卡塞开路故障

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Design of an adaptive built-in-self-test (BIST) scheme for detecting multiple stuck-open faults in a CMOS complex cell is proposed. The test pattern generator (TPG) adaptively generates a subset of single-input-change (SIC) test pairs based on the past responses of the circuit under test (CUT). The design is universal, i.e., independent of the structure and functionality of the CUT. The average length of the test sequence (TS) in an n-input CUT is (n+1).2~n ((n+1).2~n-1) in a fault-free (faulty) condition. the response analyzer (RA) is also simple to design. All robustly testable multiple stuck-open faults (ocurring simultaneously both in n- and p-parts) can be detected using the proposed BIST scheme.
机译：提出了一种用于检测CMOS复杂单元中多个卡死故障的自适应内置自测试（BIST）方案的设计。测试模式发生器（TPG）根据被测电路（CUT）的过去响应，自适应地生成单输入变化（SIC）测试对的子集。设计是通用的，即独立于CUT的结构和功能。在无故障（有故障）的情况下，n输入CUT中测试序列（TS）的平均长度为（n + 1）.2〜n（（n + 1）.2〜n-1）。响应分析器（RA）的设计也很简单。使用提出的BIST方案，可以检测到所有可鲁棒测试的多个开路故障（在n和p部分同时发生）。

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