Department of Mechanical Engineering and Materials Science, Yokohama NationalrnUniversityrnTokiwadai, Hodogay-ku, Yokohama, 240-8501, JapanrnTEL: 81-45-339-3865, FAX: 81-45-331-6593 e-mail:rnmasaki@swan.me.ynu.ac.ip;
机译:热循环条件对芯片尺寸封装焊点热疲劳寿命的影响
机译:模拟表面贴装封装中CBGA焊点的热致粘塑性变形和低周疲劳
机译:在谐波载荷下,在电子封装下使用电子封装的无铅焊点(SN-0.5Cu-3Bi-1Ag)疲劳寿命的实验和有限元分析
机译:用等温循环剪切疲劳研究电子封装组件中无铅焊点的疲劳特性
机译:锡铅和无铅焊点在等温老化下的微观结构变化及其对热疲劳可靠性的影响,包括混合焊点在等温老化下的微观结构变化
机译:电子包装中的Sn-Cu无铅焊料的结构和性能
机译:使用改进的累积损伤模型来预测球形阵列型包装中SN-AG-Cu基焊点的疲劳失效