Gelest Inc., 11 East Steel Rd. Morrisville, PA 190067, USA;
Gelest Inc., 11 East Steel Rd. Morrisville, PA 190067, USA;
College of Nanoscale Science Engineering, The University at Albany-SUNY, Fuller Rd, Albany, NY 12203, USA;
机译:等离子增强氮化硅/氧化物薄膜沉积过程中的充电损伤机理
机译:具有垂直于沟道的位置受控晶界的激光结晶多晶硅氧化硅氮化物氧化硅薄膜晶体管的存储特性
机译:具有垂直于沟道的位置受控晶界的激光结晶多晶硅氧化硅氮化物氧化硅薄膜晶体管的存储特性
机译:三水合硅烷硅氮化硅和氧化物的薄膜沉积
机译:与在硅和二氧化钛基板上沉积氮化铟薄膜有关的气体表面反应。
机译:射频等离子体增强化学气相沉积(RF PECVD)反应器中样品高度对氮化硅薄膜光学性能和沉积速率的影响
机译:反应机理对氧化硅和氮化硅原子层沉积中前驱体暴露时间的影响
机译:在冷基板硅上沉积单晶硅,二氧化硅和氮化硅的研究