Washington University, Box 1127, St. Louis, Missouri 63130, USA;
3D microscopy; depth-variant imaging model; maximum likelihood estimation;
机译:使用测得的深度变化点扩展函数的增强型三维反卷积显微镜
机译:使用Zernike矩的荧光显微镜三维深度变化点扩展函数插值
机译:点扩散函数的噪声抑制及其对三维荧光显微镜图像集反卷积的影响
机译:三维荧光显微镜中点扩展功能深度变化的图像估计算
机译:从傅立叶光谱数据成像:不连续性检测,非谐波傅立叶重构和点扩展函数估计中的问题。
机译:用于三维荧光显微镜的图像恢复使用正交法有效表示深度变化点扩散函数
机译:空间不变点扩散函数及其在荧光显微镜中的估计