Variability aware compact model characterization for statistical circuit design optimization

机译：用于统计电路设计优化的可变性意识紧凑模型表征

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Variability modeling at the compact transistor model level can enable statistically optimized designs inview of limitations imposed by the fabrication technology. In this work we propose an efficient variabilityawarecompact model characterization methodol

机译：鉴于制造技术的局限性，紧凑型晶体管模型级别的可变性建模可以实现统计优化的设计。在这项工作中，我们提出了一种有效的变异感知紧凑模型表征方法

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来源
《Design for manufacturability through design-process integration VI.》|2012年|P.0J.1-0J.9|共9页
会议地点 San Jose CA(US)
作者
Ying Qiao; Kun Qian; Costas J. Spanos;
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作者单位

Univ. of California, Berkeley (United States);

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类微电子学、集成电路（IC）;微电子学、集成电路（IC）;
关键词

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