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Measurement of characteristics of a XUV capillary laser

机译：XUV毛细管激光器的特性测量

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This work concerns in measurement of characteristics of a XUV argon capillary laser, which was developed at the Czech Technical University in Prague, Faculty of Nuclear Sciences and Physical Engineering. This laser generates at 46.9 nm in Ne - like Ar. Young's double pinhole experiment was realized to estimate spatial coherence of this laser system and to detect the beam profile. We used double pinholes drilled by Ti:saphire laser with four different pinhole separations. pinhole separations were 50 μm, 60 μ m, 100 μm and 150 μm. Apertures had oval shape with diameter 20 - 25 μ m. Interference structure was detected by XUV CCD camera with resolution 512x512 pixels. This work contains also short overview about sources of XUV radiation.
机译：这项工作涉及测量XUV氩毛细管激光器的特性，该激光器是由位于布拉格的捷克技术大学核科学与物理工程学院开发的。该激光在Ne-Ar中在46.9 nm处产生。进行了杨氏双针孔实验，以估计该激光系统的空间相干性并检测光束轮廓。我们使用了Ti：saphire激光器钻出的双针孔，并具有四种不同的针孔间距。针孔间距分别为50μm，60μm，100μm和150μm。孔径为椭圆形，直径为20-25μm。 XUV CCD摄像机以512x512像素的分辨率检测到干涉结构。这项工作还包含有关XUV辐射源的简短概述。

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