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首页> 外文会议>Fifth International Conference on Electronic Measurement amp; Instruments (ICEMI'2001) Vol.1 Nov 18-21, 2001 Guilin, China >SET-UP FOR DYNAMIC TESTING OF ADCS USING THE HISTOGRAM METHOD
【24h】

SET-UP FOR DYNAMIC TESTING OF ADCS USING THE HISTOGRAM METHOD

机译：使用直方图方法进行ADC动态测试的设置

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This paper presents a dedicated bench board to test with advantage analog to digital converters (ADC) using the code density histogram method. Besides, it allows the easy testing of a stand-alone ADC with any other method. The basic idea of the new bench board is to connect the output of the ADC under test to a digital signal processor (DSP) programmed to compute the histogram as a function of the output codes. Thus, the quantity of data to be interfaced to the computer is dramatically reduced to the number of code bins of the converter. The paper fully describes the set-up and discusses the performance improvements when testing a 8-bit converter using the histogram and the FFT methods.
机译：本文介绍了一种专用台式板，可使用代码密度直方图方法对具有优势的模数转换器（ADC）进行测试。此外，它还可以通过任何其他方法轻松测试独立ADC。新台式机主板的基本思想是将被测ADC的输出连接到数字信号处理器（DSP），该处理器经过编程，可根据输出代码计算直方图。因此，将要连接到计算机的数据量大大减少到转换器的代码仓数。本文全面介绍了该设置，并讨论了使用直方图和FFT方法测试8位转换器时的性能改进。

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