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Improving Test Quality for Partial Scan Design Based on Layout Optimization

机译:基于布局优化提高部分扫描设计的测试质量

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摘要

In accordance to the characteristic of partial scan technology, the question of optimizing the layout design is discussed, and an algorithm IQLO() of selecting and chaining scan flip-flops for partial scan design circuit based on the autonomous sets by means of the interrelated values of flip-flops is presented in this paper. With the algorithm, the complexity of test generation for partial scan will be reduced, and the produced routing area overhead will be minimum.
机译:根据局部扫描技术的特点,讨论了布局设计的优化问题,并通过相互关联的值,基于自治集,选择并链接了用于局部扫描设计电路的扫描触发器的算法IQLO()。本文介绍了触发器的原理。使用该算法,将减少用于部分扫描的测试生成的复杂性,并且所产生的路由区域开销将最小。

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