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Investigation of indium-defect pairs in CdTe by PAC spectroscopy

机译：PAC光谱法研究CdTe中的铟缺陷对

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PAC spectroscopy is used to investigate indium-defect pairs in p-CdTe. It is shown that the frequently reported EFG_60 (v_Q = 60 MHz, #eta# = 0.15) is not the only signal which characterizes In-A centers. Depending on the annealing history of the sample, various EFGs with coupling constants between 49 and 60 MHz are observed at 300 K. At low temperatures, however, two well defined EFGs (EFG1:v_Q = 30 MHz #eta# = 0.43 and EFG2: v_Q = 62 MHz, #eta# = 0.19) are measured. After silver or copper doping, an EFG_57 with v_Q = 57 MHz and #eta# = 0.1 can be observed in some samples and a splitting into EFG1 and EFG2 at low temperatures is observable in some cases, too. We conclude that several different EFGs. meassured at 300 K represent the same probe-defect complex in different configurations. direct c 1999 Elsevier Science B.V. All rights reserved.
机译：PAC光谱用于研究p-CdTe中的铟缺陷对。结果表明，经常报告的EFG_60（v_Q = 60 MHz，＃eta＃= 0.15）并不是表征In-A中心的唯一信号。根据样品的退火历史，在300 K时会观察到耦合常数在49和60 MHz之间的各种EFG。但是，在低温下，有两个定义明确的EFG（EFG1：v_Q = 30 MHz＃eta＃= 0.43和EFG2： v_Q = 62 MHz，＃eta＃= 0.19）。在银或铜掺杂后，在某些样品中可以观察到v_Q = 57 MHz和＃eta＃= 0.1的EFG_57，在某些情况下，也可以观察到分为EFG1和EFG2的现象。我们得出结论，有几种不同的EFG。在300 K下测量的值表示不同配置下的相同探针缺陷复合物。直接c 1999 Elsevier Science B.V.保留所有权利。

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