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Impact of SOI History Effect on Random Data Signals

机译:SOI历史记录对随机数据信号的影响

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摘要

The impact of silicon-on-insulator (SOI) history effect in communication circuits containing delay chains is experimentally evaluated. In previous work, SOI history has been seen to change data pulse widths by 5% to 15 % for fixed data patterns. In contrast, this work shows that data scrambling and dc balance reduce the effect to 1% or less, eliminating history effect as a concern for such communication circuits.
机译:实验评估了绝缘体上硅(SOI)历史效应对包含延迟链的通信电路的影响。在以前的工作中,已经看到SOI历史记录将固定数据模式的数据脉冲宽度改变了5%到15%。相反,这项工作表明数据加扰和直流平衡将影响降低到1%或更小,从而消除了这种通信电路所关注的历史影响。

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