Yuri Fedkovych Chernivtsi National University,2 Kotsyubynsky Str., 58012 Chernivtsi, Ukraine;
zinc selenide; metal-semiconductor contact; dark and light current-voltage curves; UV- and X-rays; short circuit current; open circuit voltage;
机译:基于晶体硅基X射线CMOS图像传感器的背部照射平板检测器的研究
机译:基于4H-SiC外延层的电子辐照X射线探测器的电学表征
机译:基于4H-SiC外延层的电子辐照X射线探测器的电学表征
机译:基于金属-硒化锌接触的紫外线和X射线检测器
机译:通过深紫外线,X射线,电子束和质子束辐照辐射诱导的PMMA改性和降解来增强聚甲基丙烯酸甲酯的敏感性。
机译:具有低肖特基势垒接触的紫外到红外悬浮金属-半导体-金属介观多层MoS2宽带探测器中的超高光响应性
机译:一种新型的基于LiF的激光辐照下氢负载Ni薄膜X射线成像探测器