Surmet Corporation, 33 B Street, Burlington, MA 01803;
AFRL/MLPS, Wright-Patterson AFB, OH 45433;
Teledyne Scientific imaging, LLC, Thousand Oaks, CA 91360;
anti-reflection; motheye; surface structuring; CdZnTe; ion beam etching; HgCdTe detector; LWIR;
机译:最新新闻纸:使用改进的Motheye减反射结构的反射率低于0.05%的光学器件
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