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Novel calibration techniques and applications for touch probes with nanometre accuracy

机译:纳米精度的测头的新型校准技术和应用

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摘要

In the application of ultra-precision touch probe systems, calibration is critical to obtain the desired accuracy (< 50 nm). The geometry of the probe tip needs to be calibrated for use on ultra-precision CMMs. A novel approach for absolute diameter calibration is presented. Ultra-precision probes can also be used in other applications, such as machine calibration. This paper presents a system for accurate calibration of small multi-axis machines, using a new artefact in combination with these probes.
机译:在超精密测头系统的应用中,校准对于获得所需的精度(<50 nm)至关重要。探针的几何形状需要进行校准,以用于超精密CMM。提出了一种用于绝对直径校准的新颖方法。超精密探头还可以用于其他应用,例如机器校准。本文提出了一种使用新的人工制品和这些探头组合的小型多轴机床的精确校准系统。

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