Department of Electrical Engineering, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91125, USA;
near-field scanning microscopy and spectroscopy; charge carriers: generation, recombination, lifetime, and trapping; quantum wells; quantum wells;
机译:InGaN / GaN量子阱的亚显微瞬态透镜光谱
机译:通过毫微秒瞬态吸收光谱法测定IngaN / GaN量子纳米线中尺寸依赖性载体捕获:光学声子,电子散射和扩散的影响
机译:基于多量子阱InGaN / GaN结构的发光二极管的深层瞬态光谱研究
机译:Ingan / GaN量子阱的亚微观瞬态透镜光谱
机译:GaN纳米线中InGaN盘的相干非线性光学光谱。
机译:掺杂Si的InGaN底层对不同数量的量子阱的InGaN / GaN量子阱结构的光学性能的影响
机译:显微瞬态透镜光谱法探测的InGaN / GaN中载流子的非辐射复合过程
机译:用于激光二极管应用的GaN,InGaN和GaN / InGaN量子阱结构的mBE生长和性质