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On the Evaluation of the PIPB Effect within SRAM-based FPGAs

机译：基于SRAM的FPGA内的PIPB效应评估

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SRAM-based FPGAs are widely used in mission critical applications. Due to the increasing working frequency and technology scaling of ultra-nanometer technology, Single Event Transients (SETs) are becoming a major source of errors for these devices. In this paper, we propose an approach for evaluating the Propagation-induced Pulse Broadening (PIPB) effect introduced by the logic resources traversed by transient pulses. The proposed methodology is applicable to any recent technology to provide SET analysis, necessary for an efficient mitigation technology. Experimental results achieved from a set of benchmarks are compared with fault injection experiments executed on a 28 nm SRAM-based FPGA to demonstrate the effectiveness of our technique.
机译：基于SRAM的FPGA广泛用于关键任务应用程序。由于超纳米技术的工作频率和技术缩放的增加，单个事件瞬变（套装）正成为这些设备的主要错误来源。在本文中，我们提出了一种用于评估由瞬态脉冲遍历的逻辑资源引入的传播感应脉冲扩展（PIPB）效应的方法。所提出的方法适用于任何最近的技术，以提供有效缓解技术所需的设定分析。从一组基准测试中实现的实验结果与在基于28nm的SRAM的FPGA上执行的故障注射实验进行了比较，以证明我们技术的有效性。

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