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首页> 外文会议>International Symposium on Quality Electronic Design >An arbitrary stressed NBTI compact model for analog/mixed-signal reliability simulations
【24h】

An arbitrary stressed NBTI compact model for analog/mixed-signal reliability simulations

机译：用于模拟/混合信号可靠性仿真的任意应力NBTI紧凑模型

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A compact NBTI model is presented by directly solving the reaction-diffusion (RD) equations in a simple way. The new model can handle arbitrary stress conditions without solving time-consuming equations and is hence very suitable for analog/mixed-signal NBTI simulations in SPICE-like environments. The model has been implemented in Cadence ADE with Verilog-A and also takes the stochastic effect of aging into account. The simulation speed has increased at least thousands times. The performance of the model is validated by both RD theoretical solutions as well as silicon results.
机译：通过以简单的方式直接求解反应扩散（RD）方程，提出了一个紧凑的NBTI模型。新模型可以处理任意应力条件，而无需求解耗时的方程式，因此非常适用于类似SPICE的环境中的模拟/混合信号NBTI仿真。该模型已在带有Verilog-A的Cadence ADE中实现，并且还考虑了老化的随机影响。仿真速度至少提高了数千倍。该模型的性能已通过RD理论解决方案以及硅片结果进行了验证。

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