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【24h】

Simulating NBTI Degradation in Arbitrary Stressed Analog/ Mixed-Signal Environments

机译：在任意应力模拟/混合信号环境中模拟NBTI降级

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A compact negative bias temperature instability (NBTI) model is presented by iteratively solving the RD equations in a simple way. The new compact model can handle arbitrary stress conditions without solving time-consuming equations, and is hence, suitable for analogue/mixed-signal NBTI simulations in SPICE-like environments. The model has been implemented in Cadence ADE with Verilog-A and also takes the stochastic effect of ageing into account. The simulation speed has increased at least a thousand times compared to classical RD models. The performance of the model has been validated by both RD theoretical solutions and 140-nm CMOS silicon measurement.
机译：通过以简单的方式迭代求解RD方程，提出了紧凑的负偏压温度不稳定性（NBTI）模型。新的紧凑模型可以处理任意应力条件，而无需求解耗时的方程式，因此适用于类似SPICE的环境中的模拟/混合信号NBTI仿真。该模型已在带有Verilog-A的Cadence ADE中实现，并且还考虑了老化的随机影响。与经典RD模型相比，仿真速度至少提高了1000倍。该模型的性能已通过RD理论解决方案和140 nm CMOS硅测量得到了验证。

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