【24h】

Keynote speakers

机译:主讲嘉宾

获取原文

摘要

These keynote discusses the following: Development of Intelligent Systems for Researchers, Engineers and Scientists; Reliability and Fault Tolerance of Electronic Circuits: A Test Perspective.
机译:这些主题演讲讨论了以下内容:研究人员,工程师和科学家的智能系统开发;电子电路的可靠性和容错能力:测试角度。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号