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首页> 外文会议>IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems >A gold nano-dot modified silicon tip apex for scanning Kelvin probe microscopy
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A gold nano-dot modified silicon tip apex for scanning Kelvin probe microscopy

机译：金纳米点修饰的硅尖端顶点，用于扫描开尔文探针显微镜

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In this paper, a gold nano-dot (Au-ND) is successfully prepared on a silicon tip apex for scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) applications. An extra facile localized fluoride assisted Galvanic replacement reaction (LFAGRR) is proposed to replace the silicon (Si) atoms at the tip apex with Au ones. We successfully fabricated Au-ND coated tip apex by tapping the Si tip apex against a thin layer of electrolyte containing HAuCl and HF, which is supported by a commercial anodic aluminum oxide (AAO) slice. In a typical process, a Au-ND with approximate 30 nm in diameter was fabricated within 30 seconds in the ambient condition. Our preliminary results demonstrated a cost-effective and facile process to prepare a noble metal-nanodot (metal-ND) modified AFM tip apex. It is expected that current technology has high potential to be applied to the applications of field sensitive scanning probe microscopy (FS-SPM).
机译：本文成功地在硅尖端上制备了金纳米点（Au-ND），用于扫描开尔文探针显微镜（SKPM）应用。提出了一种额外的简便的局部氟化物辅助电置换反应（LFAGRR），以用Au原子取代尖顶处的硅（Si）原子。我们通过将Si尖端顶部轻拍到包含HAuCl和HF的电解质薄层上，成功制造了Au-ND涂层的尖端尖端，该电解质薄层由商用阳极氧化铝（AAO）切片支撑。在典型的过程中，在环境条件下，在30秒内制造了直径约为30 nm的Au-ND。我们的初步结果表明，制备贵金属纳米点（metal-ND）改性AFM针尖的经济高效且简便的方法。可以预期，当前技术在场敏感扫描探针显微镜（FS-SPM）的应用中具有很高的潜力。

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