AM: Advanced Metrology; DI: Defect Inspection and Reduction;
机译:绝缘体上硅晶片产生光谱二次谐波
机译:绝缘硅晶片的无创计量的第二谐波产生
机译:二次谐波的产生,用于绝缘体晶片上的硅的非接触式无损表征
机译:通过光学第二谐波产生快速地无损检测硅式绝缘体中的亚表面Cu
机译:用于谐波产生,参数放大,光学处理和单分子检测的非线性NOOPOPOPOPOOPOOPOOPOOPOOPOOPOOPOOPOOPOOPOOP系统
机译:光学二次谐波显微镜:应用于细胞膜损伤的灵敏检测
机译:高TcYBa2Cu3O7外延薄膜中光学二次谐波产生的检测。
机译:用光学二次谐波产生ag / Cu(110)双金属界面的研究。