Combinational circuits checking on the base of sum codes with one weighted data bit

著录项

• 来源
  《IEEE East-West Design Test Symposium》|2014年|1-9|共9页
• 会议地点
• 作者

  Sapozhnikov V.; Sapozhnikov V.; Efanov D.; Nikitin D.;

  展开▼
• 作者单位

  展开▼
• 会议组织
• 原文格式 PDF
• 正文语种
• 中图分类
• 关键词

  combinational circuits; distortion; error correction codes; Berger code characteristics; CED systems; best coding option; combinational circuits; concurrent error detection systems; distortion detection; on-line testing system; one weighted data bit; weight-based sum code features; Accuracy; Encoding; Organizations; Organizing; Systematics; Testing; Vectors;

  机译：组合电路;失真;纠错码; Berger码特性; CED系统;最佳编码选择;组合电路;并发错误检测系统;失真检测;在线测试系统;一个加权数据位;基于权重的和码特征;精度;编码;组织;组织;系统学;测试;矢量;