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A new evaluation and control method on semiconductor risk production manufacturing period

机译:半导体风险生产制造周期的评估与控制新方法

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摘要

In this paper, an enhanced risk evaluation and control method on semiconductor Risk Start Agreement (RSA) phase, a risk production period, is reported. Firstly, this method creates a reliability risk evaluation model which defines 5 risk levels with maximal allowed wafer start quantity on RSA phase according to tested data. Then, we also optimize multi-systems (RSA and Order Management System (OMS)) to realize systematical and automatic control on different risk levels. Over 4 years' practice shows this method can be well used in risk management on semiconductor risk production period.
机译:本文提出了一种改进的半导体风险起始协议(RSA)阶段的风险评估和控制方法,即风险产生期。首先,该方法创建了一个可靠性风险评估模型,该模型根据测试数据定义了5个风险级别,其中RSA阶段的晶圆起始数量最大。然后,我们还优化了多个系统(RSA和订单管理系统(OMS)),以实现对不同风险级别的系统和自动控制。超过4年的实践表明,该方法可以很好地用于半导体风险生产期间的风险管理。

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