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Pulsed Force Mode AFM characterization of photopatterned polymers films

机译：脉冲力模式AFM表征PhotoPatterned聚合物膜

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This paper demonstrates the potentiality of AFM used in Pulsed Force Mode (PFM) to investigate the structure of photopatterned polymer at a submicroscopic scale. This technique provides, simultaneously to the surface corrugation analysis, a measure of the local mechanical properties of the material (stiffness and adhesion). Pulsed Force Mode was particularly interesting for the study of polymeric optical diffractive elements, created by interference between two laser beams. In this case, PFM provides characterizations complementary to those obtained by optical measurements or by UV-visible or FTIR spectroscopies giving rise only to average values of the grating parameters. It was also demonstrated that systems with complex geometry can be investigated using the same procedure.
机译：本文演示了AFM在脉冲力模式（PFM）中使用的AFM潜力，以研究潜在的尺度以呈亚微米的聚合物的结构。该技术同时为表面波振分析提供了材料（刚度和粘附）的局部机械性能的量度。对于通过两个激光束之间的干涉产生的聚合物光学衍射元件，脉冲力模式特别有趣。在这种情况下，PFM提供互补的特征，通过光学测量或通过UV可见或FTIR光谱，仅产生到光栅参数的平均值。还证明了可以使用相同的程序研究具有复杂几何形状的系统。

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