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【24h】

Subatomic Accuracy in EUVL Multilayer Coatings

机译:EUVL多层涂层中的亚原子精度

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摘要

Reported is the production of multilayer EUV coatings on 25000 mm~2 large mirror substrates using e-beam based deposition. The accuracy achieved over the full area and the full multilayer stack amounts to an added figure error of 0.02 nm, i.e. in the sub-atomic distance range, thus meeting the future requirements on EUV coating technology.
机译:已报道使用基于电子束的沉积方法在25000 mm〜2大型镜面基板上生产多层EUV涂层。在整个区域和整个多层堆叠上获得的精度总计为0.02 nm,即在亚原子距离范围内的图形误差,从而满足了对EUV涂层技术的未来要求。

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