• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文会议>International Seminar on Application for Technology of Information and Communication >Blight Segmentation on Corn Crop Leaf Using Connected Component Extraction and CIELAB Color Space Transformation
【24h】

Blight Segmentation on Corn Crop Leaf Using Connected Component Extraction and CIELAB Color Space Transformation

机译：使用连接的组件提取和CIELAB颜色空间变换的玉米作物叶上的枯萎分割

获取原文
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Interpretation of human to identify the disease on corn crop is must be tested in laboratory to get more accurate result. Disease infection is caused by microorganism in the leaf of corn crop makes a huge loss in the harvest of corn. Identification of blight in leaf of corn crop can be helped by segmentation process. One of solution is exploiting transformation of RGB color space to CIElab to make a same image perception from different device. This activity uses thirty images of leaf, based on experiment it shows that the most suffering leaf is the tenth data where the largest blight is found in that leaf.
机译：在实验室中必须在实验室中测试人类以鉴定玉米作物疾病以获得更准确的结果。疾病感染是由玉米作物叶片中的微生物引起的，在玉米的收获中产生了巨大的损失。分割过程可以帮助鉴定玉米作物叶片的枯萎病。解决方案之一是利用RGB颜色空间的转换为CIELAB，使来自不同设备的相同图像感知。这项活动使用叶子的三十张图像，基于实验表明，最痛苦的叶子是第十个数据，在该叶子中最大的枯萎。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号