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【24h】

Exploring the Scanning Probe: A Simple Hands-on Experiment Simulating the Operation and Characteristics of the Atomic Force Microscope

机译：探索扫描探针：一个简单的动手实验，模拟原子力显微镜的操作和特性

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A simple yet effective model atomic force microscope is presented for the purpose of introducing students to the field of scanning probe microscopy. The model is used to demonstrate the basic characteristics of the atomic force microscope by realistically simulating the operation of the actual instrument. Students acquire data by first using the model to scan small objects, then use a spreadsheet program to generate one, two and three-dimensional images based on the scan data. Comparisons between these images and the physical objects allow students to immediately observe how various instrumental parameters, or changes in parameters, such as sampling number or tip size, affect the resultant images. Differences in the observed images can then be used to promote discussion on other important topics such as image calibration, lateral vs. vertical resolution and tip effects.
机译：为了向学生介绍扫描探针显微镜领域，提出了一种简单而有效的原子力显微镜模型。该模型用于通过实际模拟实际仪器的操作来演示原子力显微镜的基本特性。学生首先通过使用模型扫描小物体，然后使用电子表格程序根据扫描数据生成一维，二维和三维图像来获取数据。这些图像与物理对象之间的比较使学生可以立即观察各种仪器参数或参数的变化（例如采样数或吸头大小）如何影响最终的图像。然后，可以使用观察到的图像中的差异来促进关于其他重要主题的讨论，例如图像校准，横向分辨率与垂直分辨率以及笔尖效果。

著录项

  • 来源
  • 会议地点
  • 作者

    Anthony Layson; Ryan Leib; Dale Teeters;

  • 作者单位

    Department of Chemistry and Biochemistry, Denison University, Granville, OH 43023;

    Department of Chemistry and Biochemistry, The University of Tulsa, Tulsa, OK, 74104 Department of Chemistry, Berkeley, Berkeley, CA;

    rnDepartment of Chemistry and Biochemistry, The University of Tulsa, Tulsa, OK, 74104;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 高等教育;
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