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首页> 外文会议>NATO Advanced Study Institute on Magnetic Storage Systems Beyond 2000, Jun 25-Jul 7, 2000, Rhodes, Greece >SURFACE ANALYSIS OF MEDIA/HEAD INTERACTIONS IN INFORMATION STORAGE SYSTEMS
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SURFACE ANALYSIS OF MEDIA/HEAD INTERACTIONS IN INFORMATION STORAGE SYSTEMS

机译：信息存储系统中媒体/头部交互的表面分析

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In both rigid and flexible magnetic recording systems a lack of knowledge of the tribology of the head/medium interface is a critical limiting factor in the development of dynamic magnetic storage technology. Considering the surface specificity of the interactions involved and the diminishing sensor dimensions, this knowledge can only be gained by the use of modern surface analytical instruments with high spatial and elemental/mass resolutions, high sensitivity, high depth resolutions and imaging capabilities. The techniques which have, over the course of time, been shown to be most effective in the study of practical surfaces are Auger Electron Spectroscopy (AES), X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) and scanning probe microscopy- atomic force, magnetic force etc. The capabilities of these techniques will be discussed, through examples of their use in studies of head media interactions for tape and hard drive applications.
机译：在刚性和柔性磁记录系统中，对磁头/介质界面的摩擦学知识的缺乏都是动态磁存储技术发展的关键限制因素。考虑到所涉及的相互作用的表面特异性和传感器尺寸的减小，只能通过使用具有高空间和元素/质量分辨率，高灵敏度，高深度分辨率和成像功能的现代表面分析仪器来获得此知识。随着时间的推移，已证明在实际表面研究中最有效的技术是俄歇电子能谱（AES），X射线光电子能谱（XPS），二次离子质谱（SIMS）和扫描探针将通过在用于磁带和硬盘驱动器的磁头介质相互作用的研究中使用这些技术的实例，来讨论这些技术的功能。

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