Ioffe Physical-Technical Institute, St. Petersburg, 194021 Russia;
Ioffe Physical-Technical Institute, St. Petersburg, 194021 Russia;
Ioffe Physical-Technical Institute, St. Petersburg, 194021 Russia;
Experimental Physics VI, Julius-Maximilians University of Wurzburg, 97074 Wurzburg, Germany;
Experimental Physics VI, Julius-Maximilians University of Wurzburg, 97074 Wurzburg, Germany;
Silicon carbide; silicon vacancy related defects; optically induced inverse population; room temperature spin alignment; spintronics; quantum information; magnetometry;
机译:SiC中的点缺陷是具有室温可控量子态的单缺陷单光子光谱的有前途的基础
机译:SiC中的硅空位是一种有望用于单缺陷和单光子光谱的量子系统
机译:碳化硅中的点缺陷是在室温下具有可控量子态的单个缺陷光谱的有前途的基础
机译:SiC中的点缺陷作为单缺陷,单光子光谱与室温可控量子状态的有希望的基础
机译:用深层瞬态光谱法(DLTS)表征4H-SiC的缺陷及其对器件性能的影响
机译:短波红外中的单缺陷光谱
机译:siC中的点缺陷是单缺陷的有希望的基础, 具有室温可控量子态的单光子光谱