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Two-Dimensional Simulation of Ferroelectric Nonvolatile Memory Cells

机译:铁电非易失性存储单元的二维模拟

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摘要

An approach to increase the capabilities of integrated circuit nonvolatile memory is to take advantage of the hysteresis in the polarization of ferroelectric materials. For a rigorous analysis of this and similar devices a suitable model for the ferroelectric effects has been developed. We describe this model and show the results of its implementation into a device simulator.
机译:一种提高集成电路非易失性存储器性能的方法是利用铁电材料极化过程中的磁滞现象。为了对此和类似设备进行严格的分析,已经开发了一种适用于铁电效应的模型。我们描述了该模型,并在设备模拟器中显示了其实现的结果。

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