Lighting Research Center, Rensselaer Polytechnic Institute, 21 Union St., Troy, NY, USA 12180;
light-emitting diodes (LEDs); junction temperature; thermal resistance coefficient; life;
机译:WHTOL和热冲击测试下大功率LED封装的热阻和可靠性
机译:通过嵌入封装结构降低大功率LED的芯片键合界面热阻
机译:大功率LED的热阻偏差研究
机译:高功率LED热阻系数的表征
机译:使用热反射的高功率二极管激光器的热表征
机译:光学相干断层扫描法测定大功率InGaN基发光二极管的热膨胀系数
机译:大功率氮化镓LED中p-n结对外壳热阻的诊断技术和设置
机译:降低大气压对热接触电阻和电子元件强迫空气膜系数的影响