Laboratory of Nano Opto-Mechatornics, Department of Mechanical Engineering, Korea Advanced Institute of Science Technology, Daejeon, Korea;
STED microscopy; confocal microscopy; high resolution; pupil filter; phase plate; annular aperture;
机译:使用光瞳滤光片改善受激发射损耗显微镜中横向分辨率的方法
机译:使用相位检索在受激发射耗尽显微镜中进行定量瞳孔分析
机译:集成的双色刺激发射耗尽(STED)显微镜和荧光发射差(FED)显微镜
机译:瞳孔过滤器对刺激发射耗尽显微镜的影响
机译:光纤刺激的发射耗尽显微镜。
机译:使用相位恢复在激发射损耗显微镜定量分析瞳孔
机译:使用相位检索在受激发射损耗显微镜中进行定量瞳孔分析