Institut fuer Angewandte Physik, Heinrich-Heine-Universitaet Duesseldorf, Universitaetsstrasse 1, D-40225 Duesseldorf, Germany;
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Institut fuer Angewandte Physik, Heinrich-Heine-Universitaet Duesseldorf, Universitaetsstrasse 1, D-40225 Duesseldorf, Germany;
ion beam sputtering; reactive sputtering; auger-electron spectroscopy (AES); secondary ion mass spectroscopy (SIMS);
机译:离子束溅射沉积Y / sub 1 / Ba / sub 2 / Cu / sub 3 / O / sub 7-x /薄膜的原位制备:初步结果
机译:溅射和辅助离子对离子束辅助溅射沉积金属靶制备氮化钛膜取向的影响
机译:磁控共溅射双金属膜的离子束分析和共溅射模拟(CO-SS)
机译:原位制备金属,金属氧化物和金属氮化物膜通过离子束溅射
机译:用于微辐射热计应用的脉冲直流磁控溅射氧化钒薄膜的制备,表征和沉积后修饰
机译:超薄溅射金属对酚醛树脂薄膜的金属绝缘体转变:生长形态与表面自由能和反应性的关系
机译:使用金属氧化物混合物粉末靶通过磁控溅射沉积制备金属掺杂SiO <亚> 2 sub>膜
机译:离子束溅射制备低掺杂sn掺杂In2O3(ITO)薄膜。