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Hierarchical Analysis of IC Artwork with User Defined Abstraction Rules

机译：具有用户定义的抽象规则的IC图稿的分层分析

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Hierarchical DRC and component extract offer many advantages but no one form of hierarchical analysis fits all situations. This paper introduces hierarchical analysis in which the user specifies how abstract representations of cells are formed, how they are checked, and what to do if a violation is detected. This allows one analysis program (with different rules) to use the designer's hierarchy for a wide variety of different analyses. In particular, analyses that had been difficult in previous schemes (cross coupling capacitances, terminals in the center of cells, multi-layer interconnects) can now be handled hierarchically.
机译：分层DRC和组件提取具有许多优点，但是没有一种形式的分层分析适合所有情况。本文介绍了层次分析，其中用户指定如何形成单元的抽象表示，如何检查它们以及在检测到违规时应采取的措施。这允许一个分析程序（具有不同的规则）将设计者的层次结构用于各种不同的分析。特别是，以前的方案（交叉耦合电容，单元中心的端子，多层互连）很难进行的分析现在可以进行分层处理。

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