接触辉光放电等离子体产生的羟基自由基的检测及其在聚合反应中的应用

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低温等离子体技术是上世纪后期出现的一种新型水处理技术，即在常温常压下，通过非法拉第电解可以产生大量活性粒子，如羟基自由基（·OH）(标准氧化电位为2.80V)，以及紫外线和冲击波，对水体中的污染物有很强的破坏作用。
　　该类报道甚多，相对而言，对于活性粒子的测定研究较少。本文的目的之一就是研究辉光放电电解等离子体中羟基自由基的测定方法；同时研究了自由基引发的聚合反应，合成高分子阻垢剂。结果表明，所建立的分析方法和合成方法均有实际应用价值。
　　论文由五章组成:
　　第一章介绍了等离子体的基本概念，综述了羟基自由基的检测方法和应用范围、自由基引发阻垢剂合成的现状，最后，简要介绍了实验中用到的正交实验方法。
　　第二章以水杨酸为捕获剂，采用高效液相色谱检测了接触辉光放电产生的羟基自由基，在体系pH 值为3.2的条件下，考察了放电电压和溶液电导率对辉光放电等离子体中产生的羟基自由基浓度的影响，并半定量地计算了辉光放电电解过程中羟基自由基的产量与实验条件之间的关系。
　　第三章对辉光放电等离子体技术引发合成高分子聚合马来酸酐-丙烯酰胺共聚物阻垢剂进行了研究，借助正交设计法,考察了原料浓度、电压、后聚合时间等因素对聚合物分子量、阻垢率的影响。
　　第四章对辉光放电等离子体技术引发合成高分子聚合马来酸酐-丙烯酸共聚物阻垢剂进行了研究，借助正交设计法,考察了原料浓度、电压、后聚合时间等因素对聚合物分子量、阻垢率的影响。
　　第五章对辉光放电等离子体技术引发合成高分子聚合马来酸酐-丙烯酸-丙烯酰胺共聚物阻垢剂进行了研究，借助正交设计法,考察了原料浓度、电压、后聚合时间等因素对聚合物分子量、阻垢率的影响。

著录项

作者
吴建林;
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作者单位

西北师范大学;

展开▼
授予单位西北师范大学;
学科分析化学
授予学位硕士
导师姓名高锦章,杨武;
年度 2008
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类技术方法;
关键词
辉光放电等离子体; 羟基自由基; 高分子聚合; 阻垢剂;

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