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低温下PET薄膜电致发光与光致发光的联合测量

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聚对苯二甲酸乙二脂[poly(ethylene terephthalate)-PET]广泛地应用于电气绝缘材料,作为聚合物绝缘材料,当其在高压下受到长时间应力作用时,会由于多种原因发生击穿,导致其绝缘寿命终止。
　　 电致发光(electroluminescence-EL)是将电能直接转换成光能的现象,它与空间电荷有密切联系,也是研究聚合物中陷阱、空间电荷的存贮和输运特性以及结构转变和分子运动的重要工具。它既可以用于研究高聚物在高电场下的老化机理,也可以用于分析高聚物材料的电学以及光学性质。光致发光(Photoluminescence-PL)是用光激发发光体引起的发光现象,用于研究绝缘聚合物结构并不常见。采用电致发光和光致发光的手段对低温下PET薄膜进行光电联合测量,对理解其结构、性能等问题有着十分重要的意义。
　　 本文对PET薄膜进行了低温下电致发光和光致发光的联合测量,并与常温时的击穿场强做了对比。实验结果表明:PET薄膜的EL光谱在350～450nm,500～600nm,700nm附近有峰值；当外加电场强度大于约2.4MV/cm时,EL强度随着外加电场强度的增大而逐渐增大,当场强大于3.3MV/cm时,EL强度迅速增加,继续增加场强则出现击穿现象。这个击穿阈值与之前常温下所测得的EL阈值3.5MV/cm相比几乎没有变化。这说明低温对聚对苯二甲酸乙二酯的击穿阈值基本没有影响。

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