SD卡与CF卡性能测试平台的研究与设计

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随着现代科技的进步和生产的发展,SD(Secure Digital Memory Card)、CF(Compact Flash)卡的应用越来越广泛,SD、CF卡的性能好坏直接关系到生活和生产上正在进行的工作的安全性和可靠性。所以SD卡的性能验证和测试显得尤为重要。而传统的测试和验证 SD卡的方法主要是通过用普通的低速读卡器识别,再用相应的读写软件对卡进行读写测试。虽然可以测试出一些基本的功能,但要进行高速性能测试,却需要有专门的读卡器进行。对于高速测试和长时间测试一般读卡器很难满足,更不能满足生产上的测试需求。针对以上对两种卡的高速测试需要,本文研究了SD、CF卡高速性能测试平台。
　　本文主要介绍了以PCI Express为接口的高速测试和验证的硬件结构,让SD、CF两种卡集成到同一个PCI Express板卡上,让一个板卡同时进行两种卡的测试,对硬件电路的不同电压模式、高频特性和抗干扰特性进行了研究和分析;对 SD、CF两种卡的读写控制进行了研究;还对PCI Express的构架和驱动的开发上进行了介绍;在测试部分,用所设计的平台进行了测试,通过对不同测试数据的分析,说明设计出的PCI Express板卡的实用性。本测试平台是在windows操作系统下同时实现对SD、CF卡的高速测试,能让繁杂的测试工作在普通的台式PC机上进行。而设计出的PCI Express板卡,可以应用在生产中对SD、CF卡进行抽样测试和用相应的软件进行长时间高速测试。

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作者
张岗;
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作者单位

武汉工程大学;

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授予单位武汉工程大学;
学科控制工程
授予学位硕士
导师姓名彭锦;
年度 2013
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类微波混合集成电路（微波集成电路）;测试和检验;
关键词
模式识别; 微波电路; 电路结构; 芯片测试;

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