基于穆勒矩阵椭偏仪的OLED薄膜光学特性表征研究

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随着有机发光二极管(OLED)应用的普及，对其性能的调控和表征成为了这一领域具有重要意义的议题。有机发光层的分子取向会导致其产生光学各向异性，进而极大影响OLED器件的出光效率等性能。因此，对OLED材料的光学特性进行精确测量表征，对OLED材料性能调控、器件结构优化以及效率提升等具有十分重要的现实意义。本文以此为出发点，提出了一种基于穆勒矩阵椭偏仪的OLED材料光学特性表征方法，对OLED器件各功能层的光学特性，尤其对有机分子取向导致的光学各向异性进行了精确测量表征。首先，研究了OLED膜层穆勒矩阵椭偏测量基础理论方法，包括各向异性膜层光学特性建模方法、OLED膜层待测参数鲁棒提取方法、OLED膜层有机分子取向度表征方法等；然后，利用穆勒矩阵椭偏仪对典型的OLED各功能层的光学特性进行了精确的测量表征，获取了各层材料的光学常数数据；最后，对不同线性结构的有机小分子发光材料进行了测量表征实验，精确获取了其各向异性的光学常数，并表征了其分子取向度，揭示了分子取向度与分子线性度之间的内在联系。实验结果验证了基于穆勒矩阵椭偏仪的OLED薄膜光学特性测量表征方法的有效性。本文研究所提理论方法与实验结果的讨论将为OLED器件结构优化设计、OLED材料性能调控与工艺优化提供了指导思路，对OLED器件效率的进一步提升具有重要意义。

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作者
牛茂刚;
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作者单位

华中科技大学;

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授予单位华中科技大学;
学科机械电子工程
授予学位硕士
导师姓名刘世元,张传维;
年度 2018
页码
总页数
原文格式 PDF
正文语种中文
中图分类光学;
关键词
穆勒矩阵; 椭偏仪; OLED; 薄膜光学特性;

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