首页> 中文学位 >电真空器件非工作状态长期贮存寿命评价研究
【6h】

电真空器件非工作状态长期贮存寿命评价研究

代理获取

目录

文摘

英文文摘

东南大学学位论文独创性声明及东南大学学位论文使用授权声明

前言

第一章电子器件的失效分析的一般模型

第一节电子器件的可靠性和失效分布

第二节电子器件常见的失效分布

§1.2.1电子器件的失效规律

§1.2.2威布尔分布

§1.2.3指数分布

§1.2.4正态分布

§1.2.5对数指数分布

第三节电子器件的失效模型

§1.3.1反应论模型

§1.3.2失效率模型

§1.3.3其它模型

第四节电子器件的失效分析程序

第二章电真空器件失效分析

第一节电真空器件的失效机理

第二节电真空管内气体来源及压强的变化

§2.2.1电真空器件管壁的漏气

§2.2.2电真空器件管内零部件的出气

§2.2.3管内气压的变化

第三节电真空器件非工作寿命评价

§2.3.1电真空器件非工作状态下的失效率

§2.3.2电真空器件非工作状态下的偶然失效期

第三章管内真空度的测量方法

第一节离子流的大小与气体压强的关系

第二节几种电真空器件的压强测量

§3.2.1几种电真空器件测量的电原理图

§3.2.2离子流的检测

§3.2.3 CRT管内压强的测量

第四章速调管结构及原理

第一节速调管的原理

§4.1.1速调管的工作原理

§4.1.2速调管的主要应用

§4.1.3速调管的发展趋势

§4.1.4多注速调管的关键技术问题

第二节多注速调管发射机的设计及采用的关键技术

§4.2.1增益补偿技术

§4.2.2浮动板调制器技术

§4.2.3高压逆变电源多路并联技术

§4.2.4撬棒保护和电弧保护技术

§4.2.5液冷控制技术

第五章速调管寿命评价

第一节速调管在工作状态下寿命预示

§5.1.1速调管寿命终结判断法及成因

§5.1.2速调管失效预示模型

第二节速调管在非工作状态下的寿命预示

§5.2.1速调管的失效机理

§5.2.2速调管真空度的测量

§5.2.3长期贮存速调管的寿命评价

结论

致谢

参考文献

作者在读期间发表的论文清单

展开▼

摘要

本课题的目的就是建立电真空器件非工作状态贮存寿命的评价模型。从而能够根据这个评价模型来确定电真空器件的有效贮存时间。借鉴了电真空器件使用寿命的研究方法和结论,结合其在非工作状态下的特殊性,得到其贮存寿命评价模型。首先研究电子器件失效的数学模型。在详细研究器件的三个失效期的基础上,提出用电子器件的偶然失效期作为电子器件的使用或贮存寿命的观点。提出了影响长期贮存器件寿命的最重要因素是管内气压上升的结论。然后根据管内气压的变化情况,得出了根据管内气压的变化评价非工作状态电真空器件贮存寿命的模型。设计了离子流放大电路,并使用该电路对显像管的离子流进行测量。对于测量管内气压时需要知道的电离灵敏度,常用的方法是对器件的电极电参数进行工程计算,提出了通过计算机模拟方法,通过模拟电子和离子在管内的运动得出器件的电离灵敏度。提供了对一个简单电真空器件模型的模拟计算。介绍了速调管的工作原理、发展的趋势和所采取的关键技术。介绍了速调管寿命终结判断法及失效成因,以及工作状态下速调管的失效预示模式。针对非工作状态长期贮存速调管,提出了它的贮存寿命评价模型。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号